要實現快速組裝的發展趨勢,采用人工目測或人工光學檢測的方式檢測已不能適應,AOI光學檢測儀技術作為質量檢測的技術手段已是大勢所趨。替代人工已經成為了現實。
aoi檢測技術的應用
SMT行業提高行業品質狀況在aoi檢測技術沒有出現之前,品質控制基本上全部是靠目檢來實現,而真正的機械輔助也是這幾年的事情,金融海嘯,招工難,工廠倒閉潮等如此多而大的社會事件,推動了行業品質控制整體水平提升的步伐。
AOI光學檢測儀設備概念AOI光學檢測儀設備簡稱AOI設備或AOI檢測設備;是自動光學檢測技術在smt行業檢測領域的一種應用設備。也有部分用戶稱呼它為光學檢測儀,光學測試儀等。一般用在smt生產線的檢測部位。包括錫膏印刷后檢測,元件貼裝后檢測,以及回流焊接后檢測等不同的檢測部位。屬于smt生產設備的一種。
AOI光學檢測設備分類通過光源的不同可以分為:白光,彩光(3色/4se),Xray,SPI按檢測部位不同可以分為:SPI(錫膏測厚儀),在線aoi自動光學檢測儀,離線aoi自動光學檢測儀按檢測類別的不同分為:錫膏檢測,外觀檢測和**檢測Xray釋疑x射線檢測,簡單來說XRAY 是通過聚光束進行投影,輸出灰白的圖象,XRAY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現為短路。X射線分析也評估氣泡的產生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到.
用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷。
未來SMT生產車間配置的檢測設備,***終的解決方案應該是SPI+爐前AOI+爐后AOI+Xray的組合
在當今如此激烈的市場競爭中,電子產品制造廠商必須知道如何確保產品的質量,如何才能更好的保證產品的質量,在產品制造過程中對各個生產環節半成品或成品進行質量監測尤為重要,隨著表面組裝技術中使用的精細化、按鍵產品的要求也越來越高、字體的精細度,鐳雕**,錯反鍵。要實現快速組裝的發展趨勢,采用人工目測或人工光學檢測的方式檢測已不能適應,AOI光學檢測儀技術作為質量檢測的技術手段已是大勢所趨。替代人工已經成為了現實。
在按鍵類產品中應用AOI技術的形式多種多樣,但其基本原理是相同的,即用光學手段獲取被檢測按鍵圖形,一般通過一傳感器(CCD工業攝像機)獲取檢測按鍵原圖像并自動轉為數字化,然后以原標準圖像為設定標準進行比較、分析、檢驗和判斷,相當于將人工目視檢測的自動化、智能化。同時采用軟件自動控制分流OK產品與NG產品,檢測速度相當于12人,每小時可以檢測3000片手機按鍵。
AOI光學檢測儀分析算法;
不同AOI軟、硬件設計各有特點,如有專門針對SMT中使用的印制電路板線路圖檢測的,
SMD元件,按鍵產品外觀檢測用。其分析、判斷算法可分為2種,即設計規則檢驗(DRC)和圖形識別檢驗。
(1) AOI光學檢測儀DRC算法
是按照一些給定的規則檢測圖形。如以所有連線應以點為端點,所有引線寬度、間隔不小于某一規定值等規則檢測圖形。另外一種基于該方法的橋連檢測圖像,在提取檢測產品的數字圖像后,根據間隔區域中檢測物形態來判斷其是否為橋連,如果按某一敏感度測得的檢測物
外形逾越了預設警戒線,即被認定為橋連,DRC方法具有可以從算法上保證被檢測的檢測產品的圖形的正確性,相應的AOI光學檢測儀系統制造容易,算法邏輯容易實現高速處理,程序編輯量小,數據占用空間小等特點,但該方法確定邊界能力較差,往往需要設計特定方法來確定邊界位置。這種算法操作起來容易。檢測條件設備智能化。
(2) AOI光學檢測儀圖形識別法是將AOI系統中存儲的數字化圖形與實驗檢測圖像比
較,從而獲得檢測結果,如檢測手機按鍵時,首先按照一塊合格按鍵產品或根據計算機輔助設計模型建立起檢測文件(標準數字化圖像)與檢測文件(實際數字化圖像)進行比較,采用該原理對組裝后的按鍵產品進行的質量檢測,這種方式的檢測精度取決于標準圖像、分辨力和所用檢測程序,可取得較高的檢測精度,但具有采集數據量大,數據實時處理要求高等特點,由于圖形識別法用設計數據代替DRC中的設計原則,具有更加明顯的使用優越性。容易設定性。
AOI圖象識別
(1)圖像分析技術,隨著計算機的快速發展,目前有許多成熟的圖像分析技術,包括模板匹配法(或自動對比)、邊緣檢測法、特征提取法(二值圖)、灰度直方圖法、傅里葉分析法、光學特征識別法等,每個技術都有優勢和局限。模板比較法通過獲得一物體圖像,如片狀電容或QFP,并用該信息產生一個剛性的基于象素的模板,在檢測位置的附近,傳感器找出相同的物體,當相關區域中所有點進行評估之后,找出模板與圖像之間有***小差別的位置停止搜尋,系統為每個要檢查的物體產生這種模板,通過在不同位置使用相應模塊,建立對整個板的檢查程序,來檢查所有要求的元件。
由于元件檢測圖像很少完全匹配模板,所以模板是用一定數量的容許誤差來確認匹配的,如果模板太僵硬,可能產生對元件的"誤報";如果模板松散到接受大范圍的可能變量,也會導致誤報。
(3) AOI光學檢測儀運算法則
幾種流行的圖像分析技術結合在一個"**"內,希望一個運算法則,特別適合于特殊元件類型,在有許多元件的復雜板上,可能形成眾多的不同運算法則,要求工程師在需要改變或調整時做大量的重新編程。例如當一個供應商修改一個標準元件時,對該元件的運算法就可能需要調整,新的變化出現,用戶必須調整或"扭轉"運算法則來接納所有可能的變化,例如一塊手按鍵可以分類為具有一定尺寸和矩形形狀、兩條亮邊中間包圍較黑色的區域,然后這個外部簡單的元件外形可能變化很大,傳統的、基于運算法則的AOI方法經常太過嚴格,以至于不能接納對比度、尺寸、形狀和陰影合理的變化,甚至不重要的元件也可能難以可靠地查找和檢查,造成有元件而系統不能發現的"錯誤拒絕"。還有就是由于可接受與不可接受圖像的差別細小,運算法則不能區分,引起"錯誤接收",真正缺陷不能發現,為了解決一些問題,用戶在圖像分析領域中要有適當的知識,其次是傳統的AOI要不斷廣泛地再編程,調整AOI方法以接納合理的變化,對一個新版設計或優化一個檢查程序時,可能花上1-2天,甚至幾周作細小的扭轉。

