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首頁?>?產品目錄?>?元器件測試儀?>?半導體參數測試儀

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	半導體參數分析儀	TH521-35-600C半導體參數分析儀是一款用于電路設計的綜合解決方案，可幫助電力電子電路設計人員選擇適合自身應用的功率器件，讓其電力電子產品發揮*大價值。它可以評測器件在不同工作條件下的所有相關參數，包括IV參數（擊穿電壓和導通電阻）、三端FET電容、柵極電荷和功率損耗。用于電路設計的TH521系列半導體參數分析儀具有完整的曲線追蹤儀功能以及其他功能。
	半導體參數分析儀	TH521-35-1800半導體參數分析儀是一款用于電路設計的綜合解決方案，可幫助電力電子電路設計人員選擇適合自身應用的功率器件，讓其電力電子產品發揮*大價值。它可以評測器件在不同工作條件下的所有相關參數，包括IV參數（擊穿電壓和導通電阻）、三端FET電容、柵極電荷和功率損耗。用于電路設計的TH521系列半導體參數分析儀具有完整的曲線追蹤儀功能以及其他功能。
	半導體參數分析儀	TH521系列半導體參數分析儀是一款用于電路設計的綜合解決方案，可幫助電力電子電路設計人員選擇適合自身應用的功率器件，讓其電力電子產品發揮*大價值。它可以評測器件在不同工作條件下的所有相關參數，包括IV參數（擊穿電壓和導通電阻）、三端FET電容、柵極電荷和功率損耗。用于電路設計的TH521系列半導體參數分析儀具有完整的曲線追蹤儀功能以及其他功能。
	大功率IGBT靜態參數測試儀SC5016	大功率IGBT靜態參數測試儀SC5016
	SC2020晶體管參數測試系統	SC2020晶體管參數測試系統 SC2020晶體管參數測試系統是我司自主研發的半導體分立器件電學參數測試的專用設備，主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測，各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗，研發部門進行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。
	半導體分立器件測試系統	SC2010半導體分立器件測試系統是一款非常具有代表性的新型半導體晶體管參數測試圖示系統，是美國STI5000系列測試機的國產替代機型，本系統可自動生成功率器件的 I-V 曲線，也可根據客戶的實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統在失效分析， IQC 來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統生成的曲線都使用 ATE 系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是 6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來，數據捕獲的曲線可導入 EXCEL 等格式進一步分析研究，是一款高效多功能的半導體測試設備

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