HPS2662四探針電阻率測試儀
產品簡介
HPS2662四探針電阻率測試儀,可根據不同材料特性需要,有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜(ITO膜)、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。
產品詳細信息

HPS2662四探針電阻率測試儀,可根據不同材料特性需要,有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜(ITO膜)、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。