CP50共面性測試儀 CP50
產品簡介
CP50共面性測試儀用于準確且多樣性地對各種IC封裝器件的引腳進行測量。引腳的共面與否、是否有移位和尺寸大小均可通過軟件記錄和存儲。測試過程中,IC封裝器件的引腳放置于LED陣列光源形成的可調節細格光柵前,器件的左右移動通過儀器側面的手輪控制。
產品詳細信息
CP50共面性測試儀

CP50共面性測試儀主要特點:
1、元器件共面性測試
2、引腳移位檢測
3、引腳高度錯誤檢測
4、引腳面積測量
5、直徑、角度、不規則面積測量
6、手輪可調節光柵
7、非刺眼型光源
8、高精度XZ軸測距
9、SPC過程統計
CP50共面性測試儀的應用
軟件方面,引腳成像于電腦顯示器上,并可進行測量,同時通過器件的移動可逐一檢測各個引腳高度是否一致,高精度的XZ軸測微距頭保證了測試的準確性。所有數據可以以記事本或EXCEL表格形式存儲于電腦內,方便調用。同時開放SPC過程統計功能供參考。

SPC過程統計功能可在任何時間查看任意產線的數據。數據可以以X-Bar、R-Bar或柱狀圖形式顯示SPC報告。

主要參數:
FOV視野:3.5x2.5mm 電腦:AMD或INTEL當前主流配置
光柵照明:8x白色LED(12600光強) LED照明:8x白色LED(12600光強)
X軸*大移動范圍:50mm Z軸*大移動范圍:15mm
X軸測距精度:0.001mm Z軸測距精度:0.00
電腦操作系統:WINDOWXP或7 光柵*大調整:13mm
重量:約35KG 光學系統:1/2”MonoCCD
尺寸:500mmx500mmx300mm(長x寬x高) 顯示器:17“寬屏
電源:240VAC50/60Hz