光纖插回損測試儀ADIR161,光纖回波損耗測試儀,光纖回損儀,光纖插回損測試一體機 ADIR161
產品簡介
ADIR-161型光纖插回損測試儀是ATHENA開發(fā)研制出的帶微處理器的精密光檢測儀表,具有*佳的性能價格比。是用于光有源器件和光無源器件的回波損耗測試及設備裝配檢查、生產質量檢測的*理想的測量工具,是光纖通信系統(tǒng)研究、開發(fā)和生產,以及施工、維護等部門必備的基本測試儀器。 光纖插回損測試儀ADIR161,光纖回波損耗測試儀,光纖回損儀,光纖插回損測試一體機
產品詳細信息
光纖插回損測試儀ADIR161,光纖回波損耗測試儀,光纖回損儀,光纖插回損測試一體機
插損/回損一體化測試站
ADIR-161型光纖插回損測試儀是ATHENA開發(fā)研制出的帶微處理器的精密光檢測儀表,具有*佳的性能價格比。是用于光有源器件和光無源器件的回波損耗測試及設備裝配檢查、生產質量檢測的*理想的測量工具,是光纖通信系統(tǒng)研究、開發(fā)和生產,以及施工、維護等部門必備的基本測試儀器。
ADIR-161型光纖插回損測試儀可以進行寬動態(tài)范圍及高精度的光回波損耗測量。由于采用了大動態(tài)范圍和微弱信號檢測等先進的信號處理和軟件處理技術,具有當前******。
性能特點:
- 操作簡單,測量回波損耗及插入損耗過程中無需任何按鍵
- 測試速度快,回損、插損分別顯示,測試結果一目了然, 減輕操作人員視覺疲勞
- 回損/插損測試波長同步自動設定, 減少操作步驟
- 可同時完成雙波長測試
- 一機多用,經(jīng)濟實惠(可用作光插回損儀、臺式光功率計、臺式光源)
- 光源接頭可拆卸方便捷清潔,并提供**的功率計接口配置
- 可將測試數(shù)據(jù)保存在電腦上,方便記錄
操作簡單: 在測量回損及插損過程中無需任何按鍵操作,回損/插損值分別在一臺儀器上的兩個液晶窗口顯示,測試結果一目了然。儀器將零值及參考值等參數(shù)自動存儲在其內部,即便是儀器斷電后再開機,正常情況下不需重復校準。
波長自動同步設定:在回損模式下,儀器將自動同步設定光源及功率計在同一測試波長;功率計模式時,可單獨設定功率測試波長。
多種工作模式:儀器可設定的工作模式有:
- 1310nm測試,用于測試1310nm的回損及插損。
- 1550nm測試,用于測試1550nm的回損及插損。
- 雙波長1310/1550nm測試,用于同時測試1310/1550nm雙波長的回損及插損(標準產品為雙光源)。
- 光功率計模式,用作為高動態(tài)范圍(-70dBm)、高精度光功率計。
- 該測試站也可用作為高穩(wěn)定激光源,起到一機多用的作用。
雙波長測試:儀器內置的雙波長測試模式將測試雙波長1310/1550nm的回損及插損,雙波長的回損/插損值將通過光源波長鍵切換顯示在LCD上。
光學接口易于清潔:光功率計采用活動接口,可輕易卸下以便對光探測器進行清潔,或更換其它型號適配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等,用于測試各種型號跳線。回損測試部分的FC/APC接口采用特殊結構,可輕易卸下對內部光纖接口端面進行清潔。同時,所有光學接口都具有防塵設計。
人體工學設計:儀器整機外觀緊湊、美觀、實用。面板采用按鍵開關設計,手感良好,外殼采用高質量鋁塑機箱,確保儀器性能不受生產環(huán)境下可能存在的電氣干擾。LCD屏對比度高,并采用白色高亮LED作背光,顯示清晰。儀器支架可隨意調節(jié),并配有提手,適應不同要求,符合人體工學。
測試精度高:儀器內部采用*先進的微電子技術以及高質量光學器件,配合精心編程的內置軟件,使得儀器光源輸出功率高且極其穩(wěn)定,測量范圍寬,測試速度快,具有驚人的測量準確性以及重復性。
技術指標:
型號
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ADIR161A
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ADIR161B
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ADIR161C
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光回波損耗測試
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回損光源波長
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1310/1550nm
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1310nm
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1550nm
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回損測試校準波長
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1310/1550nm
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1310nm
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1550nm
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回損測試范圍
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14 ~ 70 dB
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測試精度
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0.25dB
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光源輸出穩(wěn)定性
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0.05dB/小時 ( @ 25℃)
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接口類型
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FC/APC
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光插入損耗測試
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波長范圍
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0.85~1.7μm
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檢測器件
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InGaAs
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功率測量范圍
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-70 ~ +6 dBm (其他范圍可選)
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校準波長
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850/1300/1310/1550nm
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測試精度
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0.25dB
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測試模式
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dBm/dB/WATT
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顯示分辨率
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對數(shù):0.001dB;線性:0.001nw/μW/mW
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接口類型
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活動接口, FC/SC/ST/ 通用φ2.5mm / 通用φ1.25mm適配器
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整機參數(shù)
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電源
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AC90~260V
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操作環(huán)境
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工作溫度0~ +45℃ 濕度≤85% RH
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